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芯片EMC的电路设计和测试
发布时间:2019-04-30   点击次数:152次

芯片EMC的电路设计和测试
电磁兼容测试的电路设计和器件选择方面还是非常重视的,一般在一个新的项目开发之前就要做好这方面的准备。所谓EMC就是:设备或体系在其电磁环境中能正常作业,且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁打扰的才能。

EMC测验包含两大方面内容:对其向外界发送的电磁打扰强度进行测验,以便承认是否契合有关规范规则的约束值要求;对其在规则电磁打扰强度的电磁环境条件下进行敏感度测验,以便承认是否契合有关规范规则的抗扰度要求。关于从事单片机使用体系规划的工程技术人员来说,把握必定的EMC测验技术是十分必要的。能否以较低的成本得到EMC认可,减少产品因外界原因带来的成本和重量,在正确选择器件以及完善电路设计方面是非常重要的一部分。

这些电路设计不仅可以提高完整的数字信号,还可以减少重复使用硬件的频率,最终将有利于新研发的产品达到技术要求尽快投入到市场中去。

下面先来看下单片机系统EMC的测试,要确保测试结果的相对稳定可靠,对测试环境的要求也是非常高的,在对电磁兼容测试时,选择的测试场地要有室外的开阔场地和室内的屏蔽室等等。

然后就是测试设备的选择,电磁兼容测试的设备可分为两类,一类室电磁干扰测试设备,当这种设备连接上合适的传感器,就能减少对测试结果的干扰;另一种是在电磁敏感度测量,设备模拟不同干扰源,通过适当的耦合/去耦网络、传感器或天线,施加于各类被测设备,用作敏感度或干扰度测量。

最后就要根据电磁兼容性测试依据标准的不同,来寻找测量的方法,测量方法归纳起来可分为4类;传导发射测试、辐射发射测试、传导敏感度(抗扰度)测试和辐射敏感度(抗扰度)测试。

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